声明
摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 硅纳米线的制备方法
1.2.1 激光烧蚀法
1.2.2 化学气相沉积(CVD)法
1.2.3 模板法
1.2.4 金属辅助化学刻蚀法
1.3 硅纳米线的性能和应用
1.4 氧化锌纳米线的制备
1.4.1 热蒸发法
1.4.2 磁控溅射法
1.4.3 水热法
1.5 氧化锌纳米线的性能及应用
1.6 三维枝状异质结纳米线阵列的研究
1.7 论文框架
参考文献
第二章 纳米线表征方法和原理简介
2.1 扫描电子显微镜
2.2 X射线衍射仪
2.3 光致发光谱
2.4 漫反射谱
参考文献
第三章 硅纳米线的可控制备和表征
3.1 引言
3.2 实验条件
3.2.1 实验试剂
3.2.2 实验仪器
3.2.3 清洗硅片
3.3 不同制备方法对Si纳米线生长的影响
3.3.1 制备方法
3.3.2 表征
3.4 生长温度对硅纳米线阵列的影响
3.5 生长液浓度对硅纳米线阵列的影响
3.6 生长时间对硅纳米线阵列的影响
3.7 总结
参考文献
第四章 树状Si/ZnO异质结纳米线阵列的制备和表征
4.1 引言
4.2 实验条件
4.2.1 实验试剂和仪器
4.2.2 制备过程
4.3 树状Si/ZnO异质结纳米线阵列的可控制备和表征
4.3.1 衬底的放置方式和籽晶层对制备Si/ZnO异质结纳米线阵列的影响
4.3.2 硅纳米线长度对制备Si/ZnO异质结纳米线阵列的影响
4.3.3 水热法生长时间对制备Si/ZnO异质结纳米线阵列的影响
4.4 总结
参考文献
第五章 总结与展望
硕士期间发表论文
致谢