Dept. of Electr. Eng., Yale Univ., New Haven, CT, USA;
fault diagnosis; logic design; microcontrollers; Gate-Level description; RT-level description; SPEC2000 benchmarks; alpha-like microprocessor; error detection allocation; gate-level faults; instruction execution flow; instruction level error; microprocessor controller;
机译:现代微处理器控制器中低级故障的指令级影响分析
机译:论现代微处理器性能故障的影响
机译:工业微处理机控制器在地下装卸站的现代调和系统
机译:现代微处理器控制器中RT-VS栅极级故障的指令级别影响
机译:CMOS缩放对单核应用中的硬故障容限和面向吞吐量的芯片多处理器中优化的吞吐量的微处理器内核设计的技术影响。
机译:地中海地区冬季有机耕种的地方品种与现代生菜品种的比较:一种基于饲养者消费者和农民的观点的方法
机译:一种使用实时模拟器的现代微处理器低水平故障检测方法