National Technical University "Kharkov Polytechnic Institute", Kharkov, UKRAINE;
机译:{111}取向外延Pb(Mg_(1/3)Nb_(2/3))O_3和0.6Pb(Mg_(1 / 3Nb_(2/3))O_3-0.4介电性能的厚度和温度依赖性PbTiO_3膜
机译:EuS / Co薄膜中增强的EuS界面有序温度对膜厚的依赖性
机译:PbSe / EuS超晶格的生长机理和热电性能
机译:PBS / EUS双层热电性能的温度和厚度依赖性
机译:用于ULSI互连应用的低k电介质的关键特性和可靠性:厚度和温度依赖性。
机译:Pb(Zr0.53Ti0.47)O3薄膜中铁电和光学性质的厚度依赖性
机译:反铁磁性层间交换耦合在EUS-PBS多层中的温度依赖性
机译:O-3 pbTiO3-聚合物压电复合材料机电性能的温度依赖性。 (重新公布新的可用性信息)