Department of Applied Physics, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91125, U.S.A.;
机译:原子力显微镜探测的硅纳米晶中的单电效应:从电荷闪烁到纳米晶体充电
机译:非接触原子力显微镜成像的单个硅悬空键的环充气
机译:使用蚀刻扫描探针通过PeakForce纳米力学定量原子力显微镜对电纺纤维进行定量成像
机译:用原子力显微镜测量硅纳米晶体的定量电荷成像
机译:探索原子力显微镜以探测通过分子膜的电荷传输并开发组合力显微镜。
机译:相关原子力显微镜定量成像-激光扫描共聚焦显微镜实时量化应激源对活细胞的影响
机译:通过原子力显微镜对硅进行成像,并具有晶体学取向的尖端(所以在der ZS angegeben中)Vom Verfasser如此:\ ud 通过原子力显微镜用晶体学取向的尖端对硅进行成像/ NC-AFM 2000的论文集
机译:通过原子力显微镜对单个si纳米晶体进行充电