School of Engineering, Simon Fraser University, Burnaby, BC, V5H 3H3, Canada;
机译:铜互连线加速寿命测试中的临时挤出故障
机译:Cu / low-k互连中电迁移引起的挤出失败
机译:铜双镶嵌互连的早期电迁移失败的紧凑模型
机译:四分之一微米铜互连临时挤出故障的特征
机译:比较在快速负载条件下使用tin37lead和tin3.0silver0.5copper焊料安装在FR-4板上的电子组件的互连故障。
机译:铜双镶嵌互连的早期电迁移失败的紧凑模型
机译:基于物理的铜双镶嵌互连电迁移诱导故障模拟