Department for Physics and Technology of Low-Dimensional Systems Institute of Semiconductor Physics National cademy of Sciences of Ukraine Kiev 03028 Ukraine;
CdTe; detector; photoconductivity; traps;
机译:光谱中CdZnTe的独特深能级:补偿,陷波和极化
机译:深能级陷阱对半绝缘CdZnTe电学性质的影响
机译:从半绝缘CdZnTe探测器材料的热激发电流谱中识别深阱能级
机译:光谱CDZNTE中独特的深度水平:补偿,诱捕和极化
机译:用于高频应用的氮化铝镓/氮化镓HEMT中的陷获效应:使用大信号网络分析仪和深层光谱学进行建模和表征。
机译:深层缺陷对CdZnTe光子计数检测器性能的影响
机译:从半绝缘CdZnTe探测器材料的热激发电流谱中识别深阱能级
机译:CdZnTe辐射探测器的补偿和陷阱研究热电发射光谱,热刺激电导率和电流 - 电压测量