Philips Research Laboratories, Prof. Holstlaan 4, 5656 AA Eindhoven, The Netherlands;
机译:RF-MEMS开关中用于欧姆接触的分层金-铬薄膜的电气和机械性能
机译:氢效对纳米晶体独立钯薄膜的力学性能
机译:模型自立式聚合物薄膜的局部动态力学性能
机译:RF-MEMS薄脱模金属膜力学性能的优化
机译:用于应力测量的微机械传感器以及用于MEMS应用的自支撑薄膜的微机械研究。
机译:离子液体表面上的大面积八乙基卟啉金属大面积自支撑膜的直接物理气相沉积和柔性光电性能
机译:模板自支撑聚合物薄膜的局部动态力学性能