Department of Electronic Engineering Optical Design Measurement Center, De Lin Institute of Technology, Tuchen, Taipei County 23646, Taiwan, R. O. C.;
evanescent field; near-field scanning optical microscope; short probe; surface photovoltage; tapping-mode; total internal reflection; tuning fork;
机译:演示非光学调节的攻丝模式近场扫描光学显微镜在纳米光学计量学和半导体光学表征中的应用
机译:轻击模式原子力显微镜与反射扫描近场光学显微镜(AF / RSNOM)组合
机译:具有亚波长超大尺寸再现性的多模光纤攻丝的全长制品制造-在扫描近场光学显微镜问题中的应用
机译:攻丝模式的最佳仪表,非光学调节近场扫描光学显微镜及其应用
机译:敲击模式扫描近场光学显微镜的研究
机译:带有弯曲玻璃纤维探头的真攻丝模式扫描近场光学显微镜
机译:扫描探针显微镜:现状和新开发。近场光学显微镜及其应用的基本性能。
机译:具有宽带光源的近场扫描光学显微镜/原子力显微镜,用于研究光学材料和纳米电路。