CLC; TFT; drain-avalanche hot carrier; stress; interface trap states; reliability;
机译:CLC n-TFT在漏极雪崩热载流子应力作用下漏极电流退化的趋势转换
机译:热载流子应力引起的SLS ELA多晶硅TFT退化-栅极宽度变化和器件方向的影响
机译:动态热载体应力下可靠低温多Si TFT的载体注射端子优化设计
机译:CLC TFT温度变化下的表面通道漏极热载波效果
机译:氙气闪光灯退火为低温多晶硅TFT
机译:通过在SiO2缓冲层上形成In-F纳米粒子可显着降低低温IGZO TFT的性能和稳定性
机译:四端聚-SI TFT对DC和AC热载体降解抑制机制的TCAD分析
机译:招募tft和clc生物降解途径基因:进化模式