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先端的難加工基板の高効率精密加工法の研究(第2報)-疑似ラジカル場を想定した加工変質層の形成によるPCVM加工速度の増大

机译:采用伪自由基探测伪自由基场的高效可存用衬底(第2次报告)高效精密方法的研究 - 伪自由基

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摘要

第1報で述べたように,本研究の最終目的は,半導体ダイヤモンド基板を主対象として,微小欠陥種(疑似ラジカル場)の形成法を検討するとともに,加工環境コントロール型密閉式研磨法とPCVM(Plasma Chemical Vaporization Machining)法を融合させた“革新的密閉式CMP/PCVM融合装置”を提案し,高能率高品位面加工法を開発することである.PCVMは大気圧プラズマを用いたプラズマエッチングである.高密度中性ラジカルによる高能率エッチングが可能であり,イオンの運動エネルギーが小さく加工面にイオン照射損傷をもたらさない,等の特徴を有している.PCVMによってSiCやGaNといった先端的難加工基板に対しても高いエッチングレートが確認されているが,中性ラジカルによる等方性エッチングであるため積極的な平坦化作用は無く,高能率に平坦化を行うことは原理的に困難である.そこで,本研究で提案しているように,何らかの方法で除去したい部分のみに疑似ラジカル場を形成することで,その部分の選択的エッチングにより,高能率高品位加工が実現できると考えられる.本報では,基礎検討としてSiC基板を用い,疑似ラジカル場を想定した加工変質層の有無によるPCVM加工速度の変化を調査した結果について述べる.
机译:如第一次报告所述,本研究的最终目的是考虑形成以半导体金刚石基板的主要目标形成微型物质(伪自由基)的方法,以及加工环境控制型闭合抛光方法和PCVM是提出的一种“创新封闭式CMP / PCVM融合装置”,其熔化等离子体化学汽化加工方法,开发了一种高效率的高质量位置表面处理方法。 PCVM采用大气压等离子体等离子体蚀刻。具有高密度中性自由基的高效蚀刻,并且离子的动能很小,加工表面不会导致离子照射损伤。虽然也证实了高蚀刻率为先进的难以加工衬底,例如SiC和GaN,但是具有中性自由基的各向同性蚀刻是由于中性自由基引起的各向同性蚀刻,并且没有正面的平坦化效果并平坦化到高效率,原则上很困难去做。因此,如本研究所提出的,认为可以通过在仅通过任何方法除去的部分中形成伪自由基来实现高效的高质量处理。在本报告中,我们描述了使用SiC基板使用SiC衬底作为基本检查使用SiC基板来研究PCVM处理速度变化的结果。

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