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【24h】

Systematic Investigation of Defect-Mediated Photoluminescence Through Radiation-Induced Displacement Damage

机译:通过辐射诱导的位移损伤的缺陷介导的光致发光的系统研究

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摘要

1. Photoluminescence emission and lifetime can be used to detect proton-induced damage in YBO_3:Ce~(3+). 1.1 No shifts, no relative peak changes - only observed overall decrease of emission intensity 1.2 Only able to get effects at high fluences. 2. The damage-induced lifetime is concentration-dependent. 2.1 Allows us to develop design parameters for which phosphor concentrations are optimal for detecting damage.
机译:1.光致发光发射和寿命可用于检测ybo_3:ce〜(3+)的质子诱导的损伤。 1.1没有班次,没有相对峰值变化 - 仅观察到排放强度的总体减少1.2只能在高分流速下获得效果。 2.损伤诱导的寿命浓度依赖性。 2.1允许我们开发荧光粉浓度对于检测损坏的最佳设计参数。

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