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【24h】

SiドープGaAsNにおける電子濃度のアニール温度依存性

机译:电子浓度的退火温度依赖性在Si-掺杂GaAsn中的依赖性

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摘要

GaAS_((1-x))N_x (0 ≤ x ≤ 0.03)は窒素組成([N])の増加にともなってバンドギヤップエネルギーが大きく減少す る特性をもつため,GaAs基板上での多接合型太陽電池の1.0 eV帯材料への応用が期待される。このようなデバイス の実現に向けては,pn接合を構成するSiドープn型GaAsN(Si-GaAsN)の基礎物性の解明が不可欠である。現在まで に,Si-GaAsNにおけるSi原子の活性化機構がSi不純物濃度([Si])と[N]の両者に依存することを我々は明らかにした .今回は,Si-GaAsNをアニールすることにより,Si原子の活性化機構についてさらなる考察を行ったので報告する。
机译:GaAs _((1-x))n_x(0≤x≤0.03)是GaAs衬底上的多结型,因为带子能量大大降低为氮组合物([n])。预计将应用于1.0 EV带材料的太阳能电池。为了实现这种装置,阐明构成PN结的Si掺杂的N型GaAsn(Si-GaAsn)的基本物理性质是必需的。迄今为止,我们透露,Si-GaAsn中Si原子的激活机制取决于Si杂质浓度([Si])和[N]。这次,退火Si-Gaasn报告,因为我们对激活机制进行了进一步的考虑Si原子。

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