粒子線治療中ビーム飛跡画像化のためのYAP(Ce)X線カメラの改良：問題と解決策

摘要

粒子線照射時に生じる即発X線を画像化する方法は、ビームの飛程などを評価するために期待できる方法である。今回、2 種の YAP(Ce)カメラを開発し、粒子線の画像化を試みた。40-mm × 40-mm×1-mmのYAP(Ce)を用いたカメラ(Fig. 1左)は、高感度、高分解能を有したが、実際の粒子線の測定でアーチファクトを生じた（Fig.2 左）。20-mm × 20-mm × 0.5-mmのYAP(Ce)を用いたカメラ（Fig.1 右）は、アーチファクトを生じることなく高感度、高分解能を達成できた（Fig.2右）。発表では、このような違いが生じた理由も考察する。