机译:从单色控制数据确定光学镀层厚度的反问题
机译:用于折射率和厚度的增强型共通干涉光学测量系统
机译:对钢上不同厚度的涂层系统获得的阻抗数据进行多变量分析
机译:直接单色光学控制系统的薄膜干涉涂层厚度施加真空
机译:过渡金属双硫属化物体系:直接影响材料性能的控制应用应变和缺陷密度
机译:CoxFe3-xO4纳米立方体薄中的动态扭矩飞秒磁光表征的薄膜:π位移磁化旋进的控制
机译:基于行星运动的磁控溅射薄膜涂层厚度分布分析
机译:用于亚毫米直径激光融合目标的1微米厚涂层中100 a厚度变化的射线照相检测