Circuit faults; Clocks; Tools; Power demand; Benchmark testing; Ethernet;
机译:使用故障覆盖电路的低过渡低功耗测试模式发生器的Vlsi设计
机译:通过相同电路的输出响应比较,对过渡故障进行半并行在线测试
机译:发射-换挡和发射-捕获方案的过渡故障覆盖范围和测试功率耗散的综合分析
机译:用于多个时钟域电路的LOC和LOS测试方案的测试电源和转换故障覆盖率
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:严格建模自稳定的容错电路:片上系统的超鲁棒时钟方案
机译:使用转换延迟故障模型进行自动测试模式生成的LOC,LOs和LO速度测试方法