stencil; printing; drop test; mechanical reliability; CSP; chip scale package; LGA; land grid array;
机译:细间距CSP封装的SMT组装工艺研究
机译:晶圆级CSP,晶圆级组装/测试:集成后端流程
机译:细间距无铅CSP在高可靠性SnPb基微电子组件中的应用
机译:装配过程对机械测试性能的影响为0.4mm间距CSP和LGA组分
机译:优化制造工艺,以消除细间距(0.4mm)层叠封装器件上的枕形枕(HiP)缺陷。
机译:音高处理的神经认知成分:绝对音高的见解
机译:工艺参数对新型各向异性导电胶用于无铅表面贴装组件的元件装配和跌落测试性能的影响
机译:Csp组件的加速热和机械测试