chip scale package (CSP); 0.4mm fine pitch; assembly process; yield and reliability;
机译:细间距无铅CSP在高可靠性SnPb基微电子组件中的应用
机译:细间距无铅CSP在高可靠性SnPb基微电子组件中的应用
机译:冲击和跌落冲击下的细间距BGA和CSP的可靠性预测模型
机译:处理策略和可靠性0.4mm间距CSP
机译:优化制造工艺,以消除细间距(0.4mm)层叠封装器件上的枕形枕(HiP)缺陷。
机译:受试者内的高分辨率和Fidelity120语音处理策略的比较:语音感知和它关系到地方间距灵敏度
机译:使用Petri网和马尔可夫过程对CSP规范进行可靠性分析
机译:具有4,000个极端温度循环的底部填充的Csp组件的可靠性