首页> 外文会议>Twentieth International Cryogenic Engineering Conference(第二十届国际低温工程大会)论文集 >Development and testing of a novel thermal switch You J.G., Dong D.P., Wang W.Y., Li Z.W.* No.500, Yu Tian Rd, Shanghai, China, 200083 *No.1954, Hua Shan Rd ,Shanghai, China, 200030
【24h】

Development and testing of a novel thermal switch You J.G., Dong D.P., Wang W.Y., Li Z.W.* No.500, Yu Tian Rd, Shanghai, China, 200083 *No.1954, Hua Shan Rd ,Shanghai, China, 200030

机译:新型热敏开关的开发与测试尤建国,董东平,王永业,李中望*中国上海市雨田路500号200083 *中国上海市华山路1954号200030

获取原文

著录项

相似文献

  • 外文文献
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号