nanocrystalline material; mgo; gixd; xrd; rietveld refinement.;
机译:根据GIXD技术中记录的X射线衍射图确定MgO纳米粉的微晶尺寸
机译:区分层状材料的粉末X射线衍射图样的微晶尺寸效应与结构紊乱的微晶尺寸效应
机译:区分层状材料的粉末X射线衍射图样与结构无序的微晶尺寸效应
机译:微晶尺寸测定GIXD技术中登记的X射线衍射图谱的MgO纳米液
机译:X射线光电子衍射和低能电子衍射纳米级过渡金属氧化物膜的表面结构测定
机译:FXD-CSD-GUI:图形用户界面用于基于X射线衍射的微晶尺寸分布确定
机译:区分微晶尺寸效应从层状材料的粉末X射线衍射图中的结构性疾病中的影响
机译:mie散射法测定mgO复合材料中Y2O3微晶的尺寸。