Cyclotron and Radioisotope Center, Tohoku University;
机译:通过富集的Zn-70靶的Cu-67的产生:首先测量Cu-67,Cu-64,Ga-67,Ga-66,Zn-69m和Zn-65的形成横截面,与质子相互作用 超过45 mev.
机译:用20、34、48、63和78 MeV质子测量〜(nat)C,〜(27)A1,〜(nat)Fe和〜(nat)Pb的中子产生双微分截面最向前的方向
机译:用于300 MeV和392 MeV质子诱导的反应的质子产生双微分截面
机译:70 meV质子的双差分重粒子生产横截面的测量
机译:0.4和铀M壳X射线产生的横截面,用于0.4–4.0 MeV质子,0.4–6.0 MeV氦离子,4.5–11.3 mev碳离子和4.5–13.5 MeV氧离子
机译:在...公式... ...公式...的质子-质子碰撞中测量微分和双微分Drell-Yan截面
机译:从290 meV / U 12c在碳上的质子制作双差分横截面的测量在前方角度
机译:测量26 meV质子诱导的反应的双微分带电粒子发射截面和FKK模型分析