Intel Corporation., Hillsboro, OR USA;
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s(-1)滑动
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s〜(-1)滑动
机译:使用MEMS技术制造新型垂直硅探针卡的微探针束
机译:使用静态IREM基础方法65nm硅技术的多点探测
机译:用于多点空气动力学转子叶片设计的逆向方法。
机译:利用精确的探针作图方法对转录谱分析技术进行多平台评估
机译:部分耗尽硅绝缘子技术中数字集成电路的静态噪声分析