Micron Semiconductor Asia Pte. Ltd., Singapore;
TIVA; thermal-induced voltage alteration; EMMI; emission microscopy;
机译:原子力显微镜/扫描电容显微镜在半导体器件注入结构成像中的应用
机译:扫描近场光学显微镜对亚甲基-聚甲基丙烯酸酯薄膜的亚微米级光学读取/写入/擦除
机译:通过扫描近场光学显微镜表征反共振反射光波导器件
机译:扫描光学显微镜应用在Micron〜®存储器件中
机译:声光多光子激光扫描显微镜和多光子光子计数光谱:光学神经生物学的应用和意义。
机译:非易失性存储应用中的扫描探针显微镜技术对掺杂铜的氧化锌薄膜中的陷获电荷进行电学研究
机译:扫描探针显微镜中的应用和进展。通过扫描隧穿显微镜(STM)/原子力显微镜(AFM)制造的单电子器件的研制。