Moscow Engineering Physics Institute, Kashirskoe Shosse, 31, 115409 Moscow, Russia;
least-square fitting; weighting factor; chi-square distribution; standard deviation; stability of solution;
机译:面部识别基于纹理信息和多元正常分布之间的测地距离近似
机译:相量角差误差对线参数计算影响的线性近似
机译:旋转群上具有正态正态分布的ODF的最优计算。
机译:X射线纹理测量误差对中央正态分布近似的ODF计算的影响
机译:字数分布近似中误差的界线。
机译:小样本单臂试验的事件量数据的样本大小计算:采用正态近似或基于精确卡方分布的检验统计量的对数秩检验?
机译:纹理测量的新方法:通过Rietveld细化确定方向分布函数(ODF)
机译:微晶取向分布函数(CODF)的测定及其在X射线衍射表面纹理分析中的应用