Dept. of Physics, Yerevan State University Armenia, #1, Alex Manoogian Street, Yerevan 375025, Republic of Armenia;
机译:掠角入射硬X射线背散射衍射技术测定晶体中颗粒诱导的结构无序深度分布
机译:如果组成系数alpha(x)沿平坦入射表面呈谐波变化,则Si_(1-alpha(x))Ge_(alpha(x)薄层的掠角入射X射线衍射
机译:放牧晶体衬底上生长的外延双层中的掠角入射背向散射衍射引起的镜面x射线放大
机译:采用胶凝角入射X射线后缀技术测定Si / SiGe / Si异质结帽层的空间移位
机译:GaAs / AlGaAs系统的异质结:通过金属有机化学气相沉积进行的晶体生长以及使用电容电压技术进行表征,以确定导带不连续性
机译:SiGe量子点上Si覆盖层中纳米坑的形成
机译:SiGe岛上Si封盖层中的应变分布:帽厚度和互惠空间中的占地面积的影响
机译:使用多个siGe / si层的长波长堆叠siGe / si异质结内部光电发射红外探测器