Electronics Manufacturing Research and ServicesrnDepartment of Systems Science and Industrial Engineering, State University of New York,rnBinghamton, New York, 13902-6000, U.S.A;
Electronics Manufacturing Research and ServicesrnDepartment of Systems Science and Industrial Engineering, State University of New York,rnBinghamton, New York, 13902-6000, U.S.A;
Electronics Manufacturing Research and ServicesrnDepartment of Systems Science and Industrial Engineering, State University of New York,rnBinghamton, New York, 13902-6000, U.S.A;
Manufacturing systems; job failures; yield; Jackson networks; mathematical models;
机译:分析近似值可预测具有一般分布,工作失败和并行处理的制造系统的性能指标
机译:通过分析近似来预测具有工作故障和并行处理的马尔可夫式制造系统的性能指标
机译:具有一般分布和工作失败的复杂制造系统的性能表征
机译:使用Jackson Networks的作业失败的制造系统性能分析
机译:分析近似值可预测具有工作故障和并行处理的制造系统的性能指标。
机译:外部联系人在工作绩效中的重要性:使用社交网络分析的医疗保健组织研究
机译:用作业失败和并行处理预测制造系统性能指标的分析近似
机译:制造最终性能的替代人体工程学工作分析方法