FPGAとDACを用いた30MHz以下のEMI試験装置点検用 対数目盛コムジェネレータの開発

摘要

In this paper, a log-scale comb-generator has been developed for daily checking of EMI test systems. The proposed comb-generator is composed of FPGA and DAC and can generate equally-spaced comb spectrum in log-scale. In addition, extremely-flat comb spectrum can be generated by the proposed comb-generator.%本発表では、FPGAによる任意波形発生装置を用いた対数目盛コムジェネレータを提案した。提案したコムジェネレータは9kHz～30MHzの周波数帯をカバーできると同時に、出力レベルは90dBuV±0.02dBであり、広帯域にわたってフラットな周波数特性が得られた。また、温度変化がない場合、コムジェネレータ出力の標準偏差は0.01dB以下であり、極めて安定である。 今後は、文献で提案されているようなリミットラインコムの設計や、放射磁界コムジェネレータの設計を行うとともに、提案したコムジェネレータを仲介器としたラウンドロビン試験を行う予定である。