Dept. of Commun. & Integrated Syst. Tokyo Inst. of Technol. Tokyo Japan;
computational complexity; graph theory; logic circuits; nanotechnology; polynomials; wires; NP-hard; disconnected wire defects; logic mapping problem; nano-PLA design; nonprogrammable crosspoint defects; orthogonal ray graphs; polynomial time;
机译:正交射线图和纳米PLA设计
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机译:正交性受约束密度函数理论的X射线吸收光谱精确模拟的开发和应用
机译:专为乳房成像设计的X射线计算机断层扫描/正电子发射断层扫描系统
机译:使用Tchebycheff系统和正交多项式(设计,代码,图形和相关区域)进行加权多项式回归的E最优设计的一种近似方法
机译:洛斯阿拉莫斯LaNsCE区C的prad正交X射线X射线轴的选择研究