【24h】

Orthogonal ray graphs and nano-PLA design

机译:正交射线图和纳米PLA设计

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摘要

The logic mapping problem and the problem of finding a largest square sub-crossbar with no defects in a nano-crossbar with nonprogrammable crosspoint defects and disconnected wire defects have been known to be NP-hard. This paper shows that for nano-crossbars with only disconnected wire defects, the former remains NP-hard, while the latter can be solved in polynomial time.
机译:已知逻辑映射问题以及在具有不可编程的交叉点缺陷和断开的导线缺陷的纳米交叉器中找到最大无缺陷的方形子交叉器的问题是NP-hard。本文表明,对于仅具有断线缺陷的纳米交叉开关,前者保持NP硬性,而后者可以在多项式时间内求解。

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