Dept. Mech. Reliability and Micro Materials, Fraunhofer Institute for Reliability and Microintegration (IZM) Berlin;
scanning probe microscopy; nano particles; composites; nanoDAC deformation measurement;
机译:在金纳米粒子存在下Hela癌细胞膜表面的纳米镜表征:AFM研究
机译:AFM / FTIR:材料表征的新技术
机译:AFM / FTIR:一种新的材料表征技术
机译:AFM技术用纳米镜填料颗粒的材料表征
机译:AFM-FTIR:一种用于材料表征的新技术。
机译:AFM纳米压痕和金纳米粒子包埋技术测量聚合物薄膜性能的比较
机译:扫描探针显微镜(STM / AFM)腐蚀损伤表面纳米镜原位观察技术的现状。
机译:用RHEED和aFm技术(DURIp)对脉冲激光沉积硬质薄膜进行光学表征。