Kuraray Co., Ltd., Tsukuba, Ibaraki 305-0841, Japan;
Kuraray Co., Ltd., Tainai, Niigata 959-2691, Japan;
atomic force microscope (AFM); phase image; morphology; fluctuation; end group; ArF; line edge roughness (LER);
机译:用于ArF光刻的聚(2-三甲基甲硅烷基-2-甲基丙烯酸丙酯-共-γ-丁内酯-2-甲基丙烯酸酯)
机译:原子力显微镜(AFM)和和频产生(SFG)振动光谱研究聚甲基丙烯酸正丁酯/聚苯乙烯共混物的表面形态和分子化学结构
机译:原子力显微镜光刻和纳米粒子掺入的聚甲基丙烯酸2-羟乙酯水凝胶的微观和纳米改性
机译:AFM相位图像在ARF光刻中聚(甲基丙烯酸酯)表面的形态
机译:聚(甲基丙烯酸甲酯),聚(乙二醇)和聚(色氨酸)在反相液相色谱中的保留行为。
机译:聚(甲基丙烯酸甲酯)微观结构上的细胞形态与表面能的关系
机译:通过在水中的光灭绝聚合诱导的相分离制备聚(2-羟乙基甲基丙烯酸甲酯)和聚(2-羟乙基甲基丙烯酸甲酯)-CO- 聚(乙二醇)甲基醚甲基丙烯酸酯}