National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), NeRI, AIST Tsukuba Central 2, 1-1-1 Umezono, Ibaraki 305-8568, Japan;
机译:具有不均匀功耗和块间去耦电容的IC中片上配电网络的电源噪声和阻抗
机译:基于TSV的3-D存储器IC(包括P / G TSV,片上去耦电容器和硅衬底效应)中配电网络的建模和分析
机译:评估230/400 V 50 Hz通用配电系统中的故障水平和电源网络阻抗
机译:去耦电容嵌入式基板配电网络宽带频率UltraLow阻抗评估系统
机译:具有用于纳米级集成电路的片上去耦电容器的高性能配电网络
机译:使用低功率超紧凑硅光子芯片的宽带动态微波频率识别系统
机译:多配电系统中去耦电容器的阻抗特性