DNP Photomask Europe Spa, via C.Olivetti 2/A, I-20041 Agrate Brianza, Italy;
critical dimension; CD measurement; resist thickness measurement; film thickness measurement;
机译:Z-Scan测量研究的CBD种植CDS薄膜三阶非线性厚度的显着效果
机译:霍尔和塞贝克测量可估算(埋藏的)载流子系统的厚度:识别In掺杂SnO_2膜中的界面电子
机译:电容传感器,用于在方管中测量两相液膜厚度
机译:一个10岁的MUETEC2010 CD测量系统的新生活:最终的精度升级,具有额外的薄膜厚度测量能力
机译:动态测量UHMWPE触头的润滑膜厚度,以更换全部接头。
机译:RTVue XR AngioVue光学相干断层扫描血管造影软件升级对视网膜厚度和血管密度测量的影响
机译:用于高级光刻胶磁道涂层系统的实时监测和控制的原位膜厚测量
机译:碱性系统中原子寿命的精确测量。进展报告,1995年9月15日 - 1998年1月15日