Department of Electrical and Computer Engineering, National University of Singapore, Singapore;
Junction temperature; Overcurrent fault protection; SiC MOSFET;
机译:基于导通饱和电流测量的SiC功率MOSFET结温估算方法
机译:基于内在体二极管瞬态发光的非侵入式SiC MOSFET结温估计方法
机译:内置SBD动态结温估计动态结温估计的实验研究
机译:用于SiC MOSFET器件的结温估计和保护方案
机译:使用SiC MOSFET的高温逆变器的外围电路研究。
机译:房间温度Terhertz天线耦合钻孔SOI基温度传感器的性能比较:MOSFETPN结二极管和电阻器
机译:通过开启饱和电流测量的SiC功率MOSFET的结温估计方法