Indian Institute of Technology Madras, Chennai - 600036, Tamilnadu, Indiac;
Low Power Scan; Scan Cell Reordering; Supply Scaling and Switching Activity;
机译:自动测试模式生成器,用于在扫描测试活动期间最大程度地减少切换活动
机译:通过重新排序算法最大程度地减少开关活动,从而实现高效的电源管理
机译:供热管网重构中优化开关次数的算法
机译:LPSCAN:测试期间提供缩放和切换活动最小化的算法
机译:生成紧凑的测试集,并设计用于生成开关活动低的测试。
机译:525.转向分子检测对艰难梭菌感染率的影响:使用中断时间序列泊松回归方法的大规模评估
机译:最小化光突发交换网络中的阻塞概率的容错算法