Irith Pomeranz@School of Electrical Computer Eng. Purdue University W. Lafayette, IN 47907, U. S. A.--Sudhakar M. Reddy@Electrical Computer Eng. Dept. University of Iowa Iowa City, IA 52242, U. S. A.--;
机译:通过插入观察点来提高功能性宽边试验的过渡故障覆盖率
机译:将宽边测试视为部分功能的宽边测试的过渡故障模拟
机译:过渡故障测试中增强的偏载和宽边功率降低
机译:增强了对改进过渡故障覆盖率的宽边测试
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:过渡故障测试中增强的负载和宽边功率降低
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。