科学级相机Alta U9000 噪声的测试与分析

摘要

CCD在成像过程中不可避免的引入一定的噪声。这些噪声将对以图像检测为基础的CCD各种工程应用带来误差。本文分析了各种CCD噪声的来源及其数学性质，并对科学级CCD Alta U9000的各种噪声进行了量化分析，给出了暗电流噪声、成像电路噪声及随机噪声的变化规律。对不同积分时间的图像进行了噪声抑制实验。实验证明，根据对U9000 CCD噪声的预先测试数据，其噪声中的暗电流噪声、成像电路噪声等系统噪声可以得到很大的抑制，而随机噪声无法抑制。