以田口实验设计方法优化AOI编程参数

摘要

随着SMT产业对产品品质的要求不断提高,PCBA采用人工目测方式已不能满足需求,因此自动光学检测设备的应用也越来越重要.而AOI检验程式编写的优劣,将影响AOI误判率及漏检率的高低.过去AOI程式的编辑,需要设定许多重要参数如:光源角度、RGB光源配比、各种演算法的门槛值、检测速度等,这些都要依编程人员的经验及主观判断.由于这些重要参数在影响检测过程都存在交互作用,导致新的AOI程式导入初期检验标准及检验能力不稳定,通常都需要多次量产不断优化程式后才能趋于稳定.本研究利用田口方法「稳健设计」的特性,来进行AOI参数的最优化设定.以实验设计法综合考量所有重要因子的参数水准,避免因子之间的交互作用影响,找到最稳定的参数达到最优化的误判率及漏检率.并透过工厂实际案例研究,证明了田口设计的S/N比大幅提升,能使AOI的漏检率及误判率大幅的下降.