镀CsI光阴极厚GEM的模拟和测试

摘要

利用MaxWELL和Garfield进行了厚GEM的2D和镀CsI厚GEM的3D模拟,研究了电场分布和光入孔效率与厚GEM孔径、孔间距、厚度,以及绝缘环rim大小的关系,进而对厚GEM的几何结构进行了优化.基于优化后的参数制作了双层厚GEM并进行了CsI光阴极镀膜.测试结果表明紫外光入孔效率与模拟比较符合.

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