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基于某型电子设备的装备测试性设计研究

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摘要

主要分析研究了电子装备全寿命测试性工作任务和设计流程,以某型电子设备为例,详细介绍了设备级和电路板级测试接口、引脚定义设计,以及承载测试协议设计实现.

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来源
《2018 年计量测试技术交流会》|2018年|160-162|共3页
会议地点天津
作者
古兆兵; 王庆民;
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作者单位

航空工业第304研究所;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试技术及设备;
关键词
电子装备; 全寿命测试; 接口设计; 引脚定义; 协议设计;

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