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基于激光跟踪仪的两维平面扫描系统综合参数的测量方法研究

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两维平面扫描系统是一种常用于各类相控阵体制天线内场调试的机械装置,具有体积庞大、测试参数众多、不易测量等特点.本文从两维平面扫描系统的主要技术指标入手,提供了一种使用激光跟踪仪测量其各项参数的方法,并对测量过程中影响结果的不确定度分量进行分析.

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来源
《2018 年计量测试技术交流会》|2018年|7-11|共5页
会议地点天津
作者
祝卿; 陈继刚; 付裕; 余华昌; 潘莹; 包晓峰;
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作者单位

航空工业第304研究所;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN821.8:TN820.2;
关键词
相控阵天线; 两维平面扫描系统; 激光跟踪仪; 不确定度;

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