数字射线实时成像检测技术研究

摘要

以数字射线实时成像技术为研究对象,对透照厚度、一次透照长度、动态范围和图像分辨率等方面进行了系统研究.结果表明:通过改变透照工艺参数,被检工件在探测器成像范围内均能清晰成像,仅需保留成像效果相对较好的区域进行裁剪作为检测结果,且宜选用低电压、高电流以提高图像的清晰度;DR技术的动态范围较高,但其检测图像的分辨率较低于普通X射线底片,可通过软件改变图像的锐度,从而提高图像的清晰度.