车载NaIγ谱仪系统无源效率刻度技术研究

摘要

文中采用数值计算和模拟计算相结合的无源效率刻度方法进行系统探测效率刻度.在对测量对象详细分析的基础上,建立简化的数学模型.采用数值方法进行源探测效率计算,计算时根据γ射线在晶体内穿透路径特征,对测量空间进行了详细分区,分别推导了不同区域的计算公式;采用蒙卡模拟方法进行探测器峰总比计算,分别计算了点源位于空间中不同位置时探测器的峰总比,计算结果显示对同一能量丫射线,不同位置的峰总比偏差小于3％,可看作常数.由数值计算的源探测效率和模拟计算的峰总比结果计算得到系统的源峰探测效率.通过点源和面源实验对该方法进行了验证,点源计算结果与实验结果最大偏差小于10％,面源汁算结果与实验结果偏差小于6％.