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铟活化法测量单脉冲低产额D-D中子

摘要

低产额脉冲中子的准确测量是中子物理研究领域的难点问题,为了提高脉冲D-D中子产额测量精度,延伸测量下限,发展了以115In为活化片的测量方法.对样品和测量系统进行了设计,采用蒙特卡罗模拟方法对影响测量不确定度的关键因素进行了分析.分析的结果表明,该方法可将脉冲中子产额测量下限延伸至107中子/脉冲甚至更低.

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