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脉冲宽度对PIN限幅放大系统微波脉冲热效应的影响

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以由PIN管限幅器和GaAs PHEMT低噪声放大器构成的PIN限幅放大系统为研究对象,采用数值仿真和理论分析的方法研究了其微波脉冲的热效应与损伤机理,得到了脉冲宽度对PIN限幅放大系统的影响,并且通过引入吸收效率因子建立了理论模型.利用吸收效率因子可以从PIN管限幅器模块的烧毁功率阈值近似地得出PIN限幅放大系统的烧毁功率阈值.

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来源
《2016全国第十六届微波集成电路与移动通信学术年会》|2016年|17-20|共4页
会议地点上海
作者
Shipeng Yi; 易世鹏; Zhengwei Du; 杜正伟;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类结构、器件;
关键词
半导体器件; PIN限幅放大系统; 脉冲宽度; 微波脉冲热效应;

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