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TFT Vth漂移对AMOLED面板寿命影响分析及改善

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摘要

针对AMOLED寿命测试初期亮度快速下降的问题展开分析,认为测试初期亮度快速下降是由TFT的Vth漂移引起.并提出改善方案:提高TFT器件的稳定性;寿命测试前将TFT器件Aging到稳定状态,再进行寿命测试,以达到延长AMOLED面板寿命的目的.

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来源
《2018中国显示学术会议》|2018年|255-259|共5页
会议地点西安
作者
AI Yu; 艾雨; XIE Xuewu; 谢学武; PENG Yuqing; 彭裕清;
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作者单位

中国物理学会;

中国光学光电子行业协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN873.3;
关键词
显示面板; 有机发光二极管; 薄膜晶体管; 寿命分析;

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