X荧光分析自动测量系统

摘要

研制了X荧光分析自动测量系统，旨在提高样品微量元素含量测量时测量精度和可重复性，并扩大微机在核物理实验中的应用范围。该系统由APPLE—Ⅱ微机、换样和获取数据三部分组成。该文简单介绍该系统的硬件和软件，及其工作原理。（王太和摘）