X-射线荧光压片法测定矿石中锡含量

摘要

本文研究了用X-射线荧光光谱仪压片法快速测定矿石中锡含量.试样1.0000g与3.0000g糊精混匀,压制成片,测定电压和电流分别为50kV和70mA.以康普顿散射线为内标,经验系数法校正基体干扰.锡的测定范围(0.005～10×10-2).检出限0.002％,相对标准偏差:(O.67～7.1％).标准物质测定值与国家标准物质推荐值一致,试样测定值与苯革取-苯芴酮分光光度法和等离子体发射光谱法测定值一致.