利用合成坪截面测量裂变中子数的方法探索

摘要

提出了利用多种中子反应合成的坪截面测量裂变中子数的思路,并采用裂变谱中子进行了初步估算.利用无阈的(n,r)反应和有阈的(n,p)(n,2n)等反应进行加和可以得到合成截面,该截面在快中子能区比较平坦,因此对能量不敏感,适合测量裂变中子.文中选出了部分核素及其反应截面的合成,并采用不同的裂变中子谱进行了平均截面的计算,结果表明平均截面变化介于3～10％,说明该方法适合用于快中子数测量.