一种采用低精度ADC测量高精度DAC频谱性能的测试算法

摘要

为降低高精度DAC频谱测试对测量器件的精度要求,本文提出了一种低成本的DAC频谱测试算法.该算法先分别采用低通滤波器和衰减器对被测DAC的输出信号进行滤波处理,产生两组频谱相关的信号,然后采用精度与被测DAC相当或甚至更低的ADC对上述两组滤波后的信号进行采样.最后借助简单的数字信号处理算法对所采集的两组数据进行处理,即可精确估计出被测DAC的频谱性能.仿真结果表明,本文提出的算法仅需采用精度为14位的ADC,即可对精度为16位的DAC进行精确的频谱测试,且THD误差仅为0.31dB.与IEEE标准法相比,测量器件ADC的精度要求被降低了约30dB.由于放松了测量器件的精度要求,本文提出的方法极大地节省了DAC的测试成本.该方法不仅适用于与DAC相关的混合信号集成电路产品测试,还为DAC相关的内建自测试和片上系统测试提供切实可行的测试方案.