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GaN大功率MMIC在片测试系统的研究

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本论文讨论了GaN大功率MMIC在片测试系统搭建以及测试中需要解决的各项问题.通过对传统在片测试系统的研究并结合GaN芯片要求高电压以及高功率输出的特点,对直流探针以及测试夹具进行改进,最终组建了GaN大功率MMIC的在片测试系统,并用该系统对某款GaN芯片进行了测试评价,证明了该测试系统的可用性以及测试的准确性.

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来源
《第十八届全国化合物半导体、微波器件和光电器件学术会议》||387-389|共3页
会议地点厦门
作者
Jing Xue; 薛静; Xin Zhang; 张忻; Bo Xu; 徐波; Feng Qian; 钱峰;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类
关键词
功率微波单片集成电路; 氮化镓; 在片测试系统;

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