一款低压差线性稳压器电路的抗辐照加固设计

摘要

随着低压差线性稳压器在航天领域的广泛应用,由总剂量辐射效应(高、低剂量率)引发的电路可靠性问题已成为其在辐照环境中应用的瓶颈.本文分析了低压差线性稳压器辐照指标与关键模块的相关性,确定了需要重点加固的参数.通过采用抗辐照器件,优化电路结构和参数、版图设计加固以及工艺加固等措施,实现了一款抗辐照加固低压差线性稳压器电路.经总剂量辐照试验验证,该款电路在剂量率为50rad(si)/s下,抗γ电离辐照总剂量达到300krad(Si);在剂量率为0.1rad(si)/s和0.01rad(si)/s下,总剂量达到100krad(Si),无明显的低剂量率辐照损伤增强效应.